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        膜厚测试仪
        膜厚测试
         实验设备
         品牌: 牛津
         型号: X-Strata920
         设备参数
         可测元素: 22~92号,如Au-Ni-Cu-Sn
         可测层数: 基材+4层电镀层
         精准度: 第一层镀层厚度≦20u” 误差:±0.1
                             ≧20u” 误差:±5%
         第二层镀层厚度误差:±10%
         第三层镀层厚度误差:±15%
         第四层镀层厚度误差:±15%
         实验条件
         升压----预热----波普校准
         温度: 20~80℃
         湿度: 45~75%RH
         判定标准
        返回设备列表
         
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